設備組成
名稱 | 規格 | 數量 | |
主 體 | 測試板 | PCBA_XC7Z030_NAND_TEST_V1.0_B_Rohs | 1 |
外殼 | FT-N008B 黑色 | 1 | |
外箱 | 閃存質量等級檢測儀手提箱 | 1 | |
配 件 | Micro-USB 線 | Micro-USB 通用 | 1 |
真空吸筆 | 便攜式防靜電 | 1 | |
網線 | 雙絞網線 2m | 1 | |
電源 | 12V 直流電源適配器 | 1 | |
閃存規格限位框 | 12mm*18 mm（測試底座內置） | 8 | |
閃存規格限位框 | 14mm*18 mm | 8 | |
系統安裝 U 盤 | 32GB | 1 | |
軟 件 | 閃存篩選方法軟件 V1.0.0 | 1 | |
NAND 閃存自動化測試分類與壽命預測系統 1.0 | 1 | ||
產品功能
產品功能 | |
基礎測試 | 芯片信息識別 |
實時功耗測試 | |
誤碼率測試 | |
平均擦除時間測試 | |
平均編程時間測試 | |
壞塊數測試 | |
壞塊容量測試 | |
剩余可用容量測試 | |
閃存等級劃分 | |
剩余壽命預測 | |
一鍵導出測試報告 | |
實驗測試 | 最大錯誤數測試 |
平均擦除時間測試 | |
平均編程時間測試 | |
閃存錯誤數變化繪圖 | |
實際可擦寫次數測試 | |
最大頁面錯誤數變化測試 | |
擦除時間變化測試 | |
編程時間變化測試 | |
高階測試 | 測試電壓拉偏 |
設置測試范圍（塊間隔） | |
ECC 設定 | |
挑選測試 pattern | |
Read-retry | |
數據保持 | |
讀干擾 | |
報價：￥390000
已咨詢169次芯片檢測儀器
報價：面議
已咨詢1021次Instron拉力試驗機
報價：￥2980000
已咨詢241次芯片檢測儀器
報價：￥2685000
已咨詢246次芯片檢測儀器
報價：面議
已咨詢510次便攜式專用背包
報價：面議
已咨詢2890次植物根系測量
報價：面議
已咨詢331次ElectroForce力學測試儀
報價：面議
已咨詢71次科研級植物表型測量
閃存芯片智能測試系統 FT-N008B 是一種可以量身定制測試方案的綜合閃存測試系統，系統并行測試閃存顆粒數量Z多可達 8 顆。 閃存芯片智能測試系統 FT-N008B 支持多種測試 pattern 及自定義測試參數功能，提供一鍵式基礎測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現閃存顆粒剩余 壽命預測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠 性狀態，完成測試后可以方便快捷地一鍵導出測試報告，為用戶提供Z直觀的圖形化測 試數據，為閃存顆粒等級分類和應用提供Z精確的參考依據，并基于閃存顆粒品質檢測 結果實現智能分級。
SSD成品高溫智能測試系統采用 Win10 操作系統平臺，通過開放式腳本模式，可以任意的修改高低溫箱的溫度及SATA 產品的測試項目，通過 LINUX 系統和路油器進行數據傳輸，實現一鍵式操作，網絡化控制，節省人工，實現智能化數據管理，永久保留測試結果。
SSD成品高低溫智能測試系統采用 Win10 操作系統平臺，通過開放式腳本模式，可以任意的修改高低溫箱的溫度及SATA 產品的測試項目，通過 LINUX 系統和路油器進行數據傳輸，實現一鍵式操作，網絡化控制，節省人工，實現智能化數據管理，永久保留測試結果。
該系統是一款可量身定制測試方案的綜合閃存測試系統，系統可提供高溫測試環境，并行測試閃存顆粒種類Z多可達30種，并行測試閃存顆粒數量Z多可達240顆。同時支持多種測試 pattern 及自定義測試參數功能，提供一鍵式基礎測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現閃存顆粒剩余壽命預測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態，完成測試后可以方便快捷地一鍵導出測試報告，為用戶提供Z直觀的圖形化測 試數據，為閃存顆粒等級分類和應用提供Z精確的參考依據，并基于閃存顆粒品質檢測結果實現智能分級，是國內唯一自主研發的閃存芯片智能測試系統，可以為存儲產商、科研機構以及測試中心等提供全面的產品解決方案和專業的測試服務。
該系統是一款可量身定制測試方案的綜合閃存測試系統，系統可提供寬溫測試環境，并行測試閃存顆粒種類Z多可達25種，并行測試閃存顆粒數量Z多可達200顆。同時支持多種測試 pattern 及自定義測試參數功能，提供一鍵式基礎測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現閃存顆粒剩余壽命預測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態，完成測試后可以方便快捷地一鍵導出測試報告，為用戶提供Z直觀的圖形化測 試數據，為閃存顆粒等級分類和應用提供Z精確的參考依據，并基于閃存顆粒品質檢測結果實現智能分級，是國內唯一自主研發的閃存芯片智能測試系統，可以為存儲產商、科研機構以及測試中心等提供全面的產品解決方案和專業的測試服務。
營業執照已審核
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滬公網安備 31011502008050號