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賽默飛 Phenom XL G2 臺式掃描電子顯微鏡

品牌：賽默飛
型號： Phenom XL G2 臺
產地：美洲美國
供應商報價：￥8000000

上海愛儀通網絡科技有限公司更新時間：2025-07-25 09:06:23

銷售范圍售全國

入駐年限第4年

營業執照已審核

同類產品SEM 掃描電子顯微鏡(37件)

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產品特點

自動化
Phenom XL G2 Desktop SEM 通常可通過 Phenom 編程接口 (PPI) 實現標準訪問，這是一種通過 Python 腳本控制 Phenom XL G2 Desktop SEM 的強有力方法。如果用戶具有需要重復工作來分析顆粒、孔隙、纖維或較大 SEM 圖像的 SEM 工作流程，儀器就可以自動完成。

長使用壽命 CeB? 源
長使用壽命 CeB? (cerium hexaboride) 源具有幾個優點。首先，它提供的高亮度可以與鎢相比，使許多用戶可以輕松獲得高質量圖像。第二，放射源的壽命很長，維護間隔長。

Eucentric 樣品架
在許多 SEM 應用中，如果樣品可以傾斜和旋轉，用戶可以更深入地了解樣品特性。選配 eucentric 樣品架可使 eucentric 傾斜和旋轉，使研究和分析更快速、更準確。

元素鑒定 (EID)
Phenom XL G2 Desktop SEM 可配備可選能量色散 X 射線光譜 (EDS) 檢測器、以通過 X 射線分析獲得更多材料見解和元素鑒定。

逐步數據收集
專用軟件包元素鑒定軟件包 (EID) 用于控制完全集成的 EDS 檢測器。EID 軟件中直觀的分步過程可幫助用戶以有組織和結構化的方式收集所有 X 射線結果。

詳細介紹

下一代 Thermo Scientific Phenom XL G2 臺式掃描電子顯微鏡 (SEM) 可實現質量控制過程的自動化，提供準確、可重現的結果，同時節省時間以實現增值工作。

采用直觀、自動化的解決方案來滿足質量標準，無需手動、重復任務：

獲得發現故障所需的高質量信息，并在需要時快速調整您的生產流程。
自動化質量控制可以處理大量樣品，可以減少人類錯誤。
易于使用的全新界面，適合各種應用，速度更快。

Phenom XL G2 Desktop SEM 可實現全屏成像和 60 秒平均時間成像。獨特的 CeB6 電子源，使用壽命長，維護更少。體積小巧，占用的實驗室空間很小，因此您可以將顯微鏡精確地放置在需要的地方。

性能數據

電子光學	長壽命的熱電子源 (CeB6) 多射束電流
電子光學放大率范圍	160 - 200,000x
光學放大率	3–16x
分辨率	<10 nm
圖像分辨率選項	960 x 600、1920 x 1200、3840 x 2400 和 7680 x 4800 像素
加速電壓	默認: 5 kV、10 kV 和 15 kV 高級模式：可在 4.8 kV 至 20.5 kV 成像與分析模式之間調節范圍
真空水平	低 - 中 - 高
檢測器	背散射電子檢測器（標配）二級電子檢測器（可選）能量色散型 X 射線光譜 (EDS) 檢測器（可選）
樣本尺寸	最大 100 mm x 100 mm（最大 36 x 12 mm 針腳）最大 40 mm (h)
樣品加載時間	光學 <5 秒電子光學 <60 秒