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賽默飛世爾掃描電子顯微鏡 Phenom particleX Steel Desktop SEM

品牌：賽默飛世爾
型號： Phenom particleX Steel Desktop
產地：美洲美國
供應商報價：面議

賽默飛電子顯微鏡更新時間：2025-07-03 16:17:44

銷售范圍售全國

入駐年限第8年

營業執照已審核

同類產品臺式掃描電鏡(9件)

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產品特點

臺式 SEM 通過故障分析和工藝改進實現高質量鋼制造。

詳細介紹

產品介紹：

鋼鐵制造業

鋼制造領域的冶金學家和研究人員需要借助掃描電子顯微鏡 (SEM)和能量色散 X 射線譜儀 (EDS)的數據用于失效分析和工藝改進。 Thermo Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 是一種多用途臺式 SEM，能夠對鋼鐵中的非金屬夾雜物進行失效分析和自動表征。

鋼鐵夾雜物分析

這種用于鋼樣品高質量成像和元素分析的多功能解決方案提供了當今高效生產高質量鋼鐵所需的數據。快速、簡單的分析使您能夠快速響應客戶對缺陷、故障等的索賠，自動化的鋼鐵夾雜物分析能夠幫助您深入了解煉鋼過程。

主要特點

占地面積小

Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 僅需要標準壁式電源，無需更改基礎設施即可擴展分析實驗室的能力。集成的 EDS 使用戶能夠簡單地通過單擊來使用元素映射和線掃描，它可以在線圖中顯示量化的元素分布。

易于使用

用戶界面基于成熟的易用技術Phenom Desktop SEM該界面使現有客戶和新客戶都可以通過最少的培訓快速熟悉系統。獨特的 CeB6光源的高亮度有助于捕捉高圖像細節以及快速自動分析鋼鐵夾雜物。

行業專用軟件

基于多年的鋼夾雜物分析經驗，默認的分類規則和分析配方使用戶能夠快速捕獲有價值的數據。

面向未來

雖然您可使用默認分類規則和分析配方快速開始鋼鐵夾雜物分析，但分類方法和分析菜單是完全可定制的。這使您可以在更新的配方中獲得新的見解

性能數據

電子光學放大率范圍	160 - 200,000x
光學放大率	3–16x
分辨率	<10 nm
圖像分辨率選項	960x600、1920x1200、3840x2400、7680x4800 像素
加速電壓	默認: 5 kV、10 kV 和 15 kV 高級模式：可在 4.8 kV 至 20.5 kV范圍內調節成像與分析模式
真空水平	低 - 中 - 高
檢測器	背散射電子檢測器（標配）能量色散型 X 射線光譜 (EDS) 檢測器（標配）二級電子檢測器（可選）
樣品尺寸	最大 100x100 毫米（最大 36 x 12 毫米插針）最高 40 毫米（可選最高 65 毫米）
裝載樣品時間	光學 <5 秒電子光學 <60 秒