200V – 30kV
6× - 1000000×
30 kV下3.0 nm
270S
高真空模式:<1×10-5 Pa
技術性能指標:
1 電子光學:
1.1 發射源:鎢燈絲(高性能電子光學鏡筒,雙陽極熱發射電子槍)
1.2 固定式物鏡光闌,無需手動調整使用方便
1.3 加速電壓:200V – 30kV,自動256級偏壓設計
1.4 放大倍數:6× - 1000000×
1.5 極靴內有一路單獨抽真空系統,保證在低真空和環境模式下電子槍高真空和不受污染,延長燈絲壽命
1.6 電子束束流:可達到的數值不小于2μA,并連續可調
1.7 使用工廠預對中燈絲更換方便
2 真空系統
2.1 1個250 l/s分子渦輪泵+1個機械泵
2.2 高真空模式:<1×10-5 Pa
2.3 低真空模式:10 – 130 Pa
2.4 環境真空模式:10 – 2600 Pa
2.5 高真空模式下的換樣時間:≤150秒
2.6 低真空及環境真空模式下的換樣時間:≤270秒
3 分辨率
3.1 高真空模式下的分辨率
3.1.1 30 kV下3.0 nm (二次電子)
3.1.2 30 kV下4.0 nm (背散射電子)
3.1.3 3 kV下8.0 nm (二次電子)
3.2 環境真空模式下的分辨率(以英文官方樣本公布的參數為準,并作為驗收指標)
3.2.1 30 kV下3.0 nm (二次電子)
3.2.2 具備獨立的環境真空/超低真空模式二次電子探頭
4 樣品室
4.1 樣品室內徑:不小于340 mm
4.2 分析工作距離:10 mm
4.3 樣品室紅外CCD相機:1個
4.4 最多可升級8個探測器或附件接口
5 樣品臺
5.1 類型:五軸馬達臺,全對中,同時保留五軸手動功能
5.2 行程:X≥110 mm,Y≥110 mm,(X/Y重復精度2μm)Z≥65 mm,旋轉R=n×360o,傾斜T=-15o/+90o
5.3 樣品尺寸:可沿 X、 Y 軸完全旋轉時直徑≥122 mm,最大樣品高度≥85mm
6 圖像處理及系統控制
6.1 極高的6144×4096像素,可保存TIFF/BMP/JPEG格式
6.2 單窗口或四窗口圖像顯示, 四活動窗口智能掃描技術
6.3 實時或靜態信號按彩色或按灰度等級混合, 256 幀平均或積分, 數字動畫記錄 (.avi格式), 直方圖及圖像測量軟件
6.4 SmartSCAN? 智能掃描技術,蒙太奇圖像導航,
7 節能措施
7.1 Energy Star認證的顯示器和工作站
7.2 無需冷卻水和空壓機
8 軟硬件配置系統
8.1 深圳市天禧儀器自定義軟件系統
8.2 深圳市天禧儀器離子濺射儀
9 技術服務
9.1 提供該儀器的質量檢驗標準和驗收方法
9.2 整機含第1年的免費保修服務,包含零配件和工時
9.3 安裝調試與驗收賣方應派專家到用戶場地進行安裝調試,對用戶操作人員現場進行使用和維護培訓,培訓和安裝的時間不少于2天,內容包括儀器的原理、使用、日常維護及現場操作。
報價:面議
已咨詢3249次鎢燈絲掃描電子顯微鏡
報價:¥5000000
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SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產品,配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統SEM產品受安裝樣品尺寸與重量的限制,通過簡單的操作即可實現數據采集。可用于鋼鐵等工業材料,汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外,SE系列包括4種型號(兩種類型,兩個等級),滿足眾多領域的測試需求。用戶可以根據實際用途(如微觀結構控制:用于改善電子元件、半導體等材料的功能和性能;異物、缺陷分析:用于提高產品品質)選擇適合的產品。
1波長范圍:400 - 1000 nm 2每一像素同時檢測時間(ToA)和強度(ToT)3時間分辨率1.6 ns,有效幀速率> 500 MHz 4無損、數據驅動讀出速度高達80 Mhits / s
高性能電子光學系統 二次電子分辨率: 頂位二次電子探測器(2.0 nm at 1kV)* 高靈敏度: 高效PD-BSD, 超強的低加速電壓性能,低至100 V成像 大束流(>200 nA): 便于高效微區分析 性能優異 壓力可變: 具有優異的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配備高靈敏度低真空探測器(UVD)* 開倉室快速簡單換樣(Z大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH) 微區分析: EDS, WDS, EBSD等等
ParticleX TC 全自動汽車清潔度分析系統 取代傳統顆粒物清潔度檢測方法,允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學成分,從而判斷出污染源。