鎢燈絲掃描電鏡

SEM2000

是一款基礎款的多功能分析性鎢燈絲掃描電鏡。20kV分辨率可以做到3.9nm，支持升級30kV電壓，可觀察亞微級尺度樣品的微觀結構信息。擁有比臺式電鏡更大的移動范圍，適用于快速篩選待測樣品，更多的擴展接口，可搭載BSED、EDS等附件，使應用領域更廣。

產品特點

簡潔的操作界面

純中文的操作界面

功能設計簡單易操作。符合國人使用習慣，即使是新手用戶，簡單了解后也能快速上手。

完善的自動化功能

自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散，均可一鍵調節，提高工作效率。

豐富的測量工具

長度、面積、圓度、角度等測量功能強大的照片管理和預覽、編輯功能。

豐富的擴展性

高靈敏度背散射探測器

· 多通道成像

探測器設計精巧，靈敏度高，采用4分割設計，無需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

· 二次電子成像和背散射電子成像對比 

背散射電子成像模式下，荷電效應明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。

能譜

金屬夾雜物能譜面掃分析結果。

電子背散射衍射

鎢燈絲電鏡束流大，完全滿足高分辨EBSD的測試需求，能夠對金屬、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。

該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖，能夠識別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶，對材料組織結構進行精確判斷。

應用案例