日本RIBM HS-AFM超高速視頻級原子力顯微鏡
超高速視頻級原子力顯微鏡(Sample-Scanning High-Speed Atomic Force Microscope ,HS-AFM SS-NEX)是由日本 Kanazawa 大學 Prof. Ando 教授團隊歷經數十年研發而成的,也是世界上di一臺可以達到視頻級成像的商業化原子力顯微鏡。
相較于目前市場上的原子力顯微鏡成像設備,HS-AFM突破了 “掃描成像速慢”的限制,掃描速度zui高可達 20 frame/s,并且有 4 種掃描臺可供選擇。樣品無需特殊固定染色,不影響生物分子的活性,尤其適用于生物大分子互作動態觀測。液體環境下直接檢測,超快速動態成像,分辨率為納米水平。探針小,適用于生物樣品;懸臂探針共振頻率高,彈簧系數小,避免了對生物樣品等的損傷。懸臂探針可自動漂移校準,適用于長時間觀測。采用動態PID控制,高速掃描時仍可獲得清晰的圖像。XY軸分辨率2nm;Z軸分辨率0.5nm。
超高速視頻級原子力顯微鏡HS-AFM推出至今,全球已有80多位用戶,發表 SCI 文章 200 余篇,包括Science, Nature, Cell 等ding級雜志。
HS-AFM超高速視頻級原子力顯微鏡應用案例:
1.Video imaging of walking myosin V 實時觀察myosin V蛋白的運動
N. Kodera et al. Nature 468, 72 (2010). Kanazawa University
2.Real-space and real-time dynamics of CRISPR-Cas9 實時顯示CRISPR基因編輯
Mikihiro et al. Nature Communications, (2017). Kanazawa University
3. High-speed atomic force microscopy shows that annexin V stabilizes membranes on the second timescale
Miyagi A, et al. Nature Nanotechnology (2016)
4. IgGs are made for walking on bacterial and viral surfaces
J Preiner, et al. Nature Communications(2014)
5. Long-tip high-speed atomic force microscopy for nanometer-scale imaging in live cells
Mikihiro Shibata, et al. Scientific Reports(2015)
6. High-speed atomic force microscopy shows dynamic molecular processes in photoactivated bacteriorhodopsin
Shibata M, et al. Nature Nanotechnology (2010)
7. Tuning crystallization pathways through sequence engineering of biomimetic polymers
Xiang Ma, et al. Nature Materials (2017)
8. Lipid-bilayer-assisted two-dimensional self-assembly of DNA origami nanostructures
Yuki Suzuki, et al. Nature Communications(2015)
HS-AFM超高速視頻級原子力顯微鏡設備規格及配置參數:
基本參數:
SS-NEX 型可選配置:
報價:面議
已咨詢1913次原子力顯微鏡
報價:面議
已咨詢125次光學輪廓儀 臺階儀 原子力顯微鏡 (AEM & AFMMUR)
報價:面議
已咨詢2514次報價:面議
已咨詢2144次報價:¥1
已咨詢598次電鏡耗材
報價:面議
已咨詢982次掃描探針顯微鏡
報價:面議
已咨詢1184次掃描探針顯微鏡
報價:面議
已咨詢727次日本電子 JEOL 掃描電鏡
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復性。與一般環境或干燥N2條件相比,高真空測量具有準確度好、可重復性好及針尖和樣本損傷低等優點。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量,晶圓的表面粗糙度對于確定半導體器件的性能是至關重要的,對于先進的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應商都要求對晶圓商超平坦表面進行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說,識別介質/平面基底的納米級缺陷的任務是一個非常耗時的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可以自動缺陷識別,通過與各種光學儀器的聯用可以提高缺陷檢測效率。
Park Systems推出NX-3DM全自動原子力顯微鏡系統,專為垂懸輪廓、高分辨率側壁成像和臨界角的測量而設計。
CSI是一家法國科學設備制造商,擁有專業的AFM設計概念,以及為現有的AFM提供設計選項。它避免了激光對準需要預先定位針尖的系統,針尖/樣品的頂部和側視圖,結合垂直的馬達控制系統,使預先趨近更加容易。
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