掃描速度的全新詮釋，擁有zui高的掃描分辨率，zui優異的儀器檢測性能
    Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。

    為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發了這套快速掃描系統，不降低分辨力，不增加設備復雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現了利Dimension快速掃描系統，即時快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術創新重新定義了AFM儀器的操作和功能。

高效率   

在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調節    和檢測器調節，智能進針，大大縮短了實驗時間。
自動測量軟件和高速掃描系統wan美結合，大幅提高了實驗數據  的可信度和可重復性。

高分辨率     

Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。
掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。
低噪音，溫度補償傳感器展現出亞埃級的噪音水平。
在任何樣品上均有卓越表現
閉環控制的Icon和FastScan的掃描管極大地降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實圖像。
Fast Scan可以對不同樣品進行測量，保證高度從埃級到100多納米的樣品高精度無失真掃描。

   
Dimension Fastscan是世界上di一臺將掃描速度、分辨率、精確度和噪音控制wan美結合的AFM，真正實現了快速掃描原子力顯微鏡的商業化應用。為了實現AFM掃描速度變革性的提升，Bruker的工程師致力于AFM技術的改造和完善。
 

■采用zui低?spacerun: 'yes'; mso-font-kerning: 0.0000pt">■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片，即使掃描速度達到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。
■Z方向，探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s，同時在閉環工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差<1%，真正使Fastscan成為了世界上di一臺快速掃描AFM。
■ 自動的激光和檢測器的調節使得實驗的組建更為快速有效。
■ 系統使用自帶的樣品導航軟件MIRO，利用光學成像系統能夠在幾分鐘之內分辨并抓取納米級的樣品特征。
zui新的光學系統可以使用任何Bruker的探針，在不降低系統穩定性的前提下，得到zui好的激光信號調節。
■ 針尖掃描系統的設計與210mm大尺寸樣品臺結合，消除了樣品尺寸的限制，同時維持了zui低的噪音和熱漂移水平。

AFM終 極性能
 
    Dimension FastScan AFM 優 秀的分辨率，與Bruker特有的電子掃描計算方法相結合，提供給用戶顯著提升的測量速度與質量。Dimension Icon是我們工業領xian的針尖掃描技術的zui新革新，配置了溫度補償位置傳感器，展現出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平，這個驚人的性能出現在大樣品臺，34微米和90微米的掃描范圍的系統上，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環噪音水平。XYZ閉環掃描頭的新設計也能展現較高掃描速度，而不損壞圖像質量，實現更大的數據采集輸出量。Icon 掃描管比當今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度。這種革新與新的ZG掃描和下針算法相結合，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。
 
  

杰出的生產力
 
    使用Dimension系列原子力顯微鏡發表的文章遠比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多。在科研和工業生產的過程研究中已成為一個標志性的符號。FastScan把此平臺引入了更卓越的新水平，展現出更高的性能和更快地獲得測量結果。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往zui先進的AFM技術更加簡便。可以使初學者在操作中，同樣得到專家級的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質量的結果，而無需像以前一樣通常需要幾小時的專業調整。Dimension FastScan的每個方面—從完全開放式針尖樣品空間，到預存軟件參數設置—都經過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率，全新的直觀用戶界面，世界的Dimension AFM平臺，三者結合提供了無與倫比的AFM儀器性能，保證您在最短時間內得到測試結果并發表出版。

世界上最靈活的平臺
 
    Dimension FastScan 展現出的無與倫比的性能，堅固性和靈活度，使得這臺儀器實現了以前只有在特制的系統中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能，將AFM強大的功能完全展現在科研領域和工業領域的研究者面前，為高質量AFM 成像和納米研究設定了新的標準。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升，以迎合您不斷增長的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學、電學和電化學附件。

    無與倫比的性能和多種附加模塊滿足您的一切科研需要
 
    出眾的性能滿足各種應用需求
 
    Dimension FastScan可同時高速捕捉多個通道的數據，獲得更多通道的高質量數據。結合我們Bruker的很多AFMZG技術，模式和模式增強功能，Dimension FastScan以其獨特的性能優勢，幫助您完成更高水平的納米研究。
 
   

材料成像
 
     FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的ZGPeakForce QNMTM成像模式，在使用快速掃描掃描
管的情況下可進行納米力學成像。使用FastScan技術，大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學圖譜的時間。

納米操縱
 
    可實現在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環掃描器解決了掃描管的蠕變效應，大大提高了操縱的精確度。同時超低噪音的精密探針的準確定位，適用于任何納米操作系統。

加熱和冷卻
 
    在以各種AFM 模式掃描的同時可實現-35℃到250℃的溫度的精確控制和熱分析。另外還可使用熱探針對低于100nm的局部加熱到500℃。

電學表征
 
    使用ZG的模式，可以在更高的靈敏度和更大的動態范圍上實現電學表征。PeakForce TUNA?和PeakForce SSRM提供了獨特的電學表征方法，同時還可以與樣品上的力學屬性相聯系。

利用最短時間獲得高質量可發表數據結果
 
    無論是作為科研交流還是發表科學文章，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業精確的數據測量和高質量AFM圖片。真正的快速掃描AFM系統使您能夠運用簡易方法對大量數據進行快速準確的處理分析。
 
   

樣品篩選

    利用AFM系統獲取大量樣品信，進行樣品常規篩選。無論是材料生產中進行失效分析或納米級的質量控制，及時的產品信息反饋是必不可少的產品質量控制過程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰時，高精 準度成為必備條件。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數據對其中的非晶藥物成分進行篩選，這可能成為FastScan的一個新用途。
 
   

動態應用范例
 
    另一種常見的應用是觀察一個納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下，隨著時間產生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中，對納米尺度的動態變化觀察都是極具研究價值的。Dimesion FastScan為這種實驗提供了極為便利的條件。