1 nm開(kāi)環(huán)
50um
25mm * 25mm
Agilent 2100生物芯片分析系統(tǒng)
維卡軟化點(diǎn)試驗(yàn)儀
點(diǎn)膠紙電壓擊穿試驗(yàn)儀
點(diǎn)膠紙擊穿場(chǎng)強(qiáng)試驗(yàn)儀
迷你轉(zhuǎn)印儀
zuixin型的小型臺(tái)式原子力顯微鏡
美國(guó)ACST公司zuixin開(kāi)發(fā)的原子力顯微鏡（AFM）具備簡(jiǎn)單易使用和高穩(wěn)定性等優(yōu)點(diǎn)。AFM是一種真正意義上的多學(xué)科計(jì)量學(xué)工具，并且具備工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。AFM不僅僅對(duì)于納米學(xué)科的初學(xué)者來(lái)說(shuō)是簡(jiǎn)單易懂的，而且也適合科研人員的高等研究工作。
主要功能：高分辨納米級(jí)形貌成像及力學(xué)特性測(cè)試
應(yīng)用范圍：在納米尺度下對(duì)金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、有機(jī)物、高分子、生物體等樣品的表面進(jìn)行原位形貌的觀測(cè)及力學(xué)等物性的測(cè)試
● 模式：振動(dòng)、非振動(dòng)、相位和橫向力顯微鏡
● 50-微米掃描范圍
● X軸和Y軸位移的精度: 1 nm開(kāi)環(huán)
● Z軸位移的精度< 0.075nm
★ 3個(gè)兆像素CCD相機(jī)實(shí)時(shí)成像
（45X - 400X）
★ X-Y 掃描線性范圍60μm
★ 簡(jiǎn)易的探針裝填
選配:
★ 環(huán)境控制腔
★ 導(dǎo)電AFM
報(bào)價(jià)：$50000
已咨詢773次生物芯片點(diǎn)印儀
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢2218次實(shí)驗(yàn)室烘箱與馬弗爐
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢3037次樣品制備
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢1899次離心機(jī)
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢2687次數(shù)控式-10L
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢2615次數(shù)控式-小型
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢58次原子力顯微鏡
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢536次拉曼光譜成像系統(tǒng)
Park NX-Hivac通過(guò)為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來(lái)提高測(cè)量敏感度以及原子力顯微鏡測(cè)量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比，高真空測(cè)量具有準(zhǔn)確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點(diǎn)。
高精度探針針尖變量的亞埃米級(jí)表面粗糙度測(cè)量，晶圓的表面粗糙度對(duì)于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的，對(duì)于先進(jìn)的元件制造商，芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對(duì)晶圓商超平坦表面進(jìn)行更精確的粗糙度控制。
對(duì)于工程師來(lái)說(shuō)，識(shí)別介質(zhì)/平面基底的納米級(jí)缺陷的任務(wù)是一個(gè)非常耗時(shí)的過(guò)程，Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動(dòng)缺陷識(shí)別，通過(guò)與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測(cè)效率。
Park Systems推出NX-3DM全自動(dòng)原子力顯微鏡系統(tǒng)，專為垂懸輪廓、高分辨率側(cè)壁成像和臨界角的測(cè)量而設(shè)計(jì)。
CSI是一家法國(guó)科學(xué)設(shè)備制造商，擁有專業(yè)的AFM設(shè)計(jì)概念，以及為現(xiàn)有的AFM提供設(shè)計(jì)選項(xiàng)。它避免了激光對(duì)準(zhǔn)需要預(yù)先定位針尖的系統(tǒng)，針尖/樣品的頂部和側(cè)視圖，結(jié)合垂直的馬達(dá)控制系統(tǒng)，使預(yù)先趨近更加容易。
EM-AFM可在SEM中同時(shí)提供原子力顯微鏡成像和納米機(jī)械測(cè)量。它綜合了這兩種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，可高速獲得高分辨率的三維圖像，并且在微納米和亞納米尺度上實(shí)時(shí)觀察納米級(jí)力的相互作用，與常規(guī)SEM/FIB兼容，
美國(guó)ACST
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